首页 | 新闻动态 | 机构概况 | 机构设置 | 研究队伍 | 科研成果 | 研究生教育 | 国际交流 | 学术出版 | 科学传播 | 人才招聘 | 图书馆
 邮箱登录
用户名:
密 码:
 
您现在的位置: 首页 > 新闻动态 > 综合新闻
电子所成功举办了电子产品可靠性分析设计培训班
撰写时间:2013-12-13 作者: 【字号:   【点击率: 打印本页 关闭

  

    为使中科院电子产品设计人员进一步提高可靠性设计水平,由院支助,电子所人事教育处组织的电子产品可靠性分析设计培训班于126日和7日在一室报告厅成功举办,培训为期两天,包括电子所和其他院属单位的职工在内共计62余名科技人员参加。 

  电子所在培训前期通过调查问卷和与科研骨干座谈等方式进行了深入地培训需求调研,最终确定了电子产品可靠性分析和设计两大培训主题以及可靠性分析、电路设计基本概念和静电防护、降额设计和继电器应用、电路接口可靠性设计四部分培训内容,并邀请航天五院质量部部长助理遇今、航天科技集团公司元器件专家组成员朱德懋和张国林以及通信卫星事业部科技委副主任王晰四位研究员作为培训师。培训期间首先由遇老师概要地介绍了可靠性分析概念,着重地讲授了可靠性预计、故障树分析等课程,并详细地进行了电子产品FMEA案例分析;朱德懋老师针对元器件的选择和使用、可靠性分析及相关设计、环境防护设计等内容进行了系统的授课,课间和课后大家积极地就工作中遇到的实际问题进行了提问,朱老师一一做了详尽的解答;接着张国林老师围绕继电器的应用要求和元器件的降额要求两部分进行了全面地阐述;针对接口电路可靠性设计容易出现的问题,王晰老师进行了罗列并提出了解决建议。最后环节为书面考试,此环节的设置一方面帮助学员巩固所学的知识,另一方面也有助于进一步验证培训效果。 

   为了提高培训的针对性,在每位培训师授课过程中均安排了提问交流环节,大家参训积极性较高,提问踊跃,老师一一为大家答疑解惑,现场气氛热烈。 

   本次邀请的四位老师都是可靠性设计方面有丰富工程经验和深厚理论基础的专家,他们严谨认真的工作作风和专心致志的科学精神深深感染着大家。培训2天时间中大家也十分投入,认真学习。此次培训总体效果较好,时间安排紧凑,课程设置合理,通过此次培训有助于学员牢固树立设计可靠性的意识,进一步提升可靠性设计水平。(人教处 张长宏) 

  评 论
  相关新闻
·华盛顿大学史传进教授访问电子所
·五室举办ZEMAX光学设计讲座
·电子所举办电子产品热设计培训
·十一室应邀出席第十九届VLSI国际会议并作专题报告
·王峰博士受聘为可编程芯片与系统研究室客座研究员并作报告
·“大规模FPGA芯片设计关键技术研究”顺利通过验收
·我所ARP用户参加润乾报表培训
·航空遥感系统完成设备详细设计评审
·国产可编程逻辑芯片和IP核市场化道路再竖里程碑
·电子所十一室在高电源抑制比电压基准源设计技术方面取得新进展
相关成果发表于IEEE CICC 2014国际会议
网站地图 | 联系我们
@2008-2009 中国科学院电子学研究所 版权所有 备案序号:京ICP备05002787号 京公网安备110402500053号
地址:北京市海淀区北四环西路19号 邮编:100190 邮件:iecas@mail.ie.ac.cn