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院装备研制项目“FPGA专用集成电路自动测试系统”通过验收
撰写时间:2012-06-08 作者:物资处 郑朝晖 十一室 胡凯 【字号:   【点击率: 打印本页 关闭

5月31日,中国科学院计划财务局组织专家对电子所承担的院科研装备研制项目“FPGA专用集成电路自动测试系统”进行了现场验收。验收专家组成员由来自中科院研究生院、中科院微电子所、中科院计算所以及航天五院等单位的5位专家组成。计划财务处缪有贵主持了会议。项目负责人杨海钢研究员向专家组做了项目工作报告和经费决算报告,使用人员做了用户使用报告,测试组做了测试报告。专家组现场核查了装备实际运行情况,查阅了相关的文件档案及财务账目,认为项目组完成了任务书规定的各项研制任务,各项技术指标达到或优于任务书规定的要求,技术档案齐全,经费使用合理,并一致同意该项目通过验收。

“FPGA专用集成电路自动测试系统”具有集成度高、精度高、通道资源丰富、测量范围广等特点,适合对FPGA芯片的逻辑功能、工作性能、静态动态参数进行测试,可以快捷准确的判断FPGA芯片的故障位置及原因,从而验证芯片设计方案的正确性。我所研制的测试系统数字通道数目为256个,测试向量深度128Mbit,最高数据速率50MHz,具有多路精密基准源和电压电流源,电压与电流基准精度0.1%,参数测量精度0.1%,人机界面友好,便于使用。

该系统的研制成功不仅可以解决电子所承担的国家重大专项FPGA芯片研制中面临的迫切测试问题,还将进一步推动国内FPGA专用测试设备研制技术的发展。

验收会现场

验收人员合影

FPGA专用集成电路自动测试系统

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