2015年10月28日，法国国家科学研究院国立信息科学研究所Michel Renovell教授受我所可编程芯片与系统研究室主任杨海钢研究员邀请对电子所进行学术交流访问，并受聘为电子所 “国际杰出学者”。 

　　10月28日上午，聘任仪式在主楼一室报告厅举行。杨海钢研究员主持仪式。电子所党委书记孙殿义代表中科院电子所向Renovell教授颁发了中国科学院“国际杰出学者”证书。相关管理部门负责人、相关专业科研人员和研究生40余人参加了会议。 

　　仪式结束后，Renovell教授为在座的科研工作人员和研究生作了题为“Defect vs Fault-Oriented Testing: A New Generation of Models”的报告。Renovell教授以常见的集成电路制造缺陷示例，通过分析不同缺陷电学行为原理，建立缺陷故障模型，介绍了面向缺陷的ATPG技术，生成高效的测试向量，并以串行、并行、启发式激励输入方式，完成高覆盖率下的缺陷测试。报告后，与会相关专业人员现场提了多个问题，都得到了Renovell教授的耐心解答。 

　　Michel Renovell教授长期从事集成电路测试技术、理论和方法学方面的研究，在国际上具有很高的影响力，是“面向缺陷测试”（Defect-Oriented-Testing）概念的奠基人和先驱，在国际著名期刊和国际会议上发表论文280余篇。其关于“浮栅”缺陷的文章在国际上第一次提出面向“缺陷”而非面向“故障”的测试方法，并因此于2013年获得IEEE Fellow称号。此外，Michel Renovell教授还于2002年和2005年获IEEE功勋服务奖，以及日本Teruhiko Yamada Memorial Award；担任过15个国际会议（主要为IEEE会议）的大会主席和25个国际会议的程序委员会主席和几十个欧盟项目/实验室的评估专家及多个国际著名期刊的编委（IEEE）。 

　　电子所拟通过“国际杰出学者”计划，与Renovell教授开展深入交流和长期合作，通过讲学、讨论和咨询等方式，为目前的FPGA可测性设计提供技术指导，引入大规模FPGA芯片测试技术方面的国际先进技术与经验，以增强电子所自主知识产权的可编程芯片产品的核心关键测试技术积累，提高微故障测试覆盖率，提升国产FPGA产品质量，提高我所在可编程芯片与系统领域的国际化水平。（十一室 黄志洪）