第四届高分辨率对地观测学术年会在武汉成功召开 2017年9月17-18日,第四届高分辨率对地观测学术年会在美丽的东湖之滨武汉大学成功召开。年会以“精致为用”为主题,集中体现了高分专项“精确探测、精细处理、精准应用、精益求精”的宗旨与追求,充分代表了我国高分辨率对地观测的发展方向及战略需求。 本届年会由高分辨率对地观测系统重大专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团公司宇航部、中国航天科工集团公司空间工程部、中国测绘学会摄影测量与遥感专业委员会主办,由武汉大学、国防科技大学、中国航天科工集团第四研究院承办。来自国内外高校、科研院所、企业单位的7位院士和1200余名代表、学生参加了会议。 大会现场
大会现场
大会报告议程邀请了李德仁等4位院士以及8位国内外顶级专家为大家作了精彩纷呈的报告。我所所长吴一戎院士以特邀嘉宾身份出席此次年会,并在大会上作了《微波成像技术的新进展》特邀报告。报告主要面向高分辨率对地观测技术的发展需求,介绍了稀疏微波成像技术、三维阵列合成孔径雷达和微波光子学合成孔径雷达,分析了其中的核心关键技术,并展望了新技术未来的应用前景,现场反响热烈。 。 吴一戎所长做大会特邀报告
为丰富年会元素,激发创新活力,提高定量化应用的水平,大会还表彰了高分无人飞行器智能感知竞赛、“航天星图杯”高分数据处理软件大赛获奖团队,以及优秀论文作者、高分青年创新基金代表。
杨元喜、王家耀、吴一戎三位院士为基金获奖代表颁奖
为充分体现高分技术与产业创新对接,会上,航天星图科技(北京)有限公司震撼发布了高分专项重大创新产业成果——GEOVIS 5空天大数据承载与智能服务平台系列产品。发布现场高科技感十足、令人耳目一新,充分展示了高分遥感与人工智能有机融合的美好未来! 高分学术年会作为国内高分辨率对地观测领域的年度盛会,汇集了本领域的顶尖专家和行业用户,采用科技赛事、科普报告、大会报告和分会交流相结合的方式,持续聚焦军民融合、一带一路、成果转化等政策和技术热点,充分研讨高分新思想、新技术、新方法、新发展,有力推动了高分体制机制和技术创新以及产业升级,显著提升了专项的品牌效益。 中科院高分办作为年会组委会依托单位,全面承担了年会统筹、策划和组织工作,以及论文征集评奖、高分软件大赛、大会报告邀请等多个环节的具体实施工作。在主管机关的指导下,与承办单位密切配合、全力付出,确保了本届年会的圆满召开!本届年会在组织规模、报告质量、产品发布,尤其是在版块设置等诸多方面均有很大的突破和创新,第四届年会的成功举办预示着我国高分事业更加广阔的前景,第五届,我们共同期待! (高分办 杨宏 张萌)
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