5月12日，巴西南大河州天主教大学Fabian Vargas教授作客电子所可编程芯片与系统研究室，并作题为“Combined Effects of Ionizing Radiation, Accelerated Aging and Electromagnetic Inerference in Modern ICs: Comprehension and Current Solutions”的精彩报告。电子所30余名员工和研究生参加了报告会。 

　　研究室主任杨海钢研究员向与会人员介绍了Fabian Vargas教授的简历和研究成果，并代表研究室对Vargas教授的来访交流表示欢迎。Vargas教授首先简介了南大河州天主教大学的地理位置以及其所在的信号和技术系统组的研究工作和方向，然后围绕当前IC面临的辐射影响和解决方案展开演讲。 

　　报告详细介绍了其团队在探索电离辐射、加速老化和电磁干扰多重效应下的评估环境和实验，分析了总剂量、单粒子效应、人工老化、电磁干扰导致系统可靠性机制失效的机理，对经典解决设计方案进行了评述，并针对近期在通过片上传感器提升嵌入系统的可靠性的研究进展进行了介绍。会上Vargas教授与参会人员进行了深入的交流和讨论。　　  

　　Fabian Vargas 教授1995年于法国国立格勒诺布尔综合理工学院获得博士学位，目前在位于巴西阿雷格里港的南大河州天主教大学担任全职教授。其主要研究领域包括关键应用的软硬件协同设计和片上可编程系统测试、抗辐照系统级设计理论、加速老化和电磁兼容性研究、嵌入式参数传感器设计、老化可靠性等方面。Vargas 教授是多个IEEE主办会议和期刊的技术委员会委员和客座编辑，拥有6个巴西和国际专利，共同编著了1部著作，发表了200多篇学术论文。他于1996年开始担任巴西自然科学基金副研究员，于1997年共同创办了IEEE拉丁美洲计算机协会测试技术委员会，2000年主办了拉丁美洲测试论坛，多次获得IEEE计算机协会的功勋奖。（十一室 黄志洪）