首页 | 新闻动态 | 机构概况 | 机构设置 | 研究队伍 | 科研成果 | 研究生教育 | 国际交流 | 学术出版 | 科学传播 | 人才招聘 | 图书馆
 邮箱登录
用户名:
密 码:
 
您现在的位置: 首页 > 科学传播 > 科普动态
最新发现与创新:我自主研发成功X荧光光谱仪
发布时间:2016-03-30 作者: 【字号:   【点击率: 打印本页 关闭
     本报讯 长波色散X荧光分析设备被国外技术强国垄断达20多年的局面,被我国民营企业自主创新研发成功的BX系列X荧光光谱仪打破。日前,在深圳举行的全国电子产品展上,X荧光光谱仪引起参会客商的关注。该技术开发者之一的白友兆博士称,该产品采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。

    北京邦鑫伟业技术公司瞄准国内这一广阔市场,组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家大胆创新,采用单道双晶体和全谱显示技术,在X射线分析技术领域探出了一条新路,研制出的BX-200和BX-100型长波色散X荧光光谱仪,实现了小型化、故障低、节能等目标。仪器的测量精度和运行的可靠性等各项指标都达到了国际同类产品的先进水平,而仪器的价格仅为国外同类产品的一半。

    X射线分析技术是国际上公认的常规分析手段,广泛应用于地矿冶金、建材、石油、化工、半导体、医药等领域,也是商检、环保、质检、科研等部门普遍采用的多元素分析方法。到上世纪80年代,该技术在美、英、德、荷、日五国成熟并普及到工业生产中。

    我国是材料大国,也是此类仪器最大的市场。由于技术复杂,研究开发难度大,我国一直处于落后地位,所用设备完全依赖于进口。

    邦鑫伟业董事长陈明介绍,由于该仪器的研发成功,导致国外同类产品在我国市场的单台报价普遍下降5万美元以上。仅此一项每年可为国家节约千万美元。长期从事射线分析技术的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授看到国产仪器曾感慨,为了研究我国自己的X荧光光谱仪,我们从黑发干到白发,没想到一个民营企业实现了几代人的梦想。

    文章出处:科技日报
网站地图 | 联系我们
@2008-2009 中国科学院电子学研究所 版权所有 备案序号:京ICP备05002787号 京公网安备110402500053号
地址:北京市海淀区北四环西路19号 邮编:100190 邮件:iecas@mail.ie.ac.cn